【共同研究】 Monochromated ARM的zui新成果在Nature Nanotechnology期刊上发表
发表时间：2025-05-19 点击次数：40 关键词：日本电子 精准识别 分子结构 化学键定位分析 相关产品：JEOL扫描电镜
近期，JEOL联合研究合作伙伴—东北大学多元物质科学研究所的研究成果在《Nature Nanotechnology》期刊上发表。题目为：Nanoscale C–H/C–D mapping of organic materials using electron spectroscopy，该研究由东北大学、国立研究开发法人产业技术综合研究所、大阪大学等单位共同完成。
研究团队通过新型电子线分光技术，首 次在单分子尺度上实现了有机材料中氢与氘同位素的空间分布精 准识别。这一突破性进展为分子结构与化学键定位分析提供了新的技术手段，对材料科学、药物研发等领域具有重要价值。实验过程中核心分析设备为大阪大学的装配有单色器的透射电子显微镜（JEOL制Triple C 2号机）。
文章摘要：
利用原子级成像与振动光谱技术区分氢和氘，对揭示有机材料的微观结构及其性能起源至关重要。传统针对含氢/氘同位素材料的结构分析技术（例如中子散射）只能提供束流区域内信息的平均值。本研究基于单色透射电子显微镜的振动光谱技术，实现了有机聚合物中氢与氘原子在单纳米分辨率下的分立成像。该技术通过绘制碳-氢与碳-氘键伸缩振动图谱，揭示了由氘代聚苯乙烯（d-PS）与聚2-乙烯基吡啶（P2VP）组成的嵌段共聚物薄膜内氘代聚苯乙烯组分的表面偏析现象。此外，该技术还在包含普通聚苯乙烯（PS）与氘代聚苯乙烯（d-PS）的块状嵌段共聚物样本中，实现了分子尺度下两种组分空间分布的清晰可视化。结合粗粒度分子动力学模拟，此方法揭示了传统散射技术无法识别的对应聚合物链"爬行管"（reptation tube）的局部特征。
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